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SB100A/30型四探针导体     /半导体电阻率测量仪   介绍>>>

   

由于金属块体材料的 电阻和金属薄膜的电阻很低,他们的测量采用四端接线法。为了满足实际的需要,本仪器采用四探针法原理来实现对不同金属、半导体、导电高分子材料的电阻及电阻率的测量。可用于高校物理教育实验,对导体/半导体/金属薄膜材料的电阻 及电阻率的测试及研 究。本产品的电阻测量范围可达10-5—106Ω。
SB100A/30型四探针导体     /半导体电阻率测量仪   是由SB118/1型精密电压电流源以 及SB120/2四探针样品平台二台 仪器构成。
l            SB118型精密直流电压电流 源 (带RS232接口、详见该产品使 用说明书)
直流电流源
a)       电流输出范围: 1nA~200mA,输出电压不小于 5V;
b)       量程:分五档,  20μA、200μA、2mA、20mA、200mA;
c)       电流输出的基本误差 :0.03%RD±0.02%FS(20±2℃);其中 50~200mA为0.05%RD±0.02%FS。
直流电压源
a)       电压输出范围: 5μV~50V,负载电流不小于 10mA(20mV以上);
b)       量程:分五档,  20mV、200mV、2V、20V、50V,每档均有粗调和细 调;
c)       电压输出的基本误差 :0.05%RD±0.02%FS(20±2℃)。
数字电压表( 4½LED)利用电压源部分“ 取样”端可对被测电压进行测试
a)       测量量程   20mV,200mV,2V,20V,200V
b)       最高分辨力   可达1µV
c)       基本误差为 0.03%RD±0.02%FS   (20±2ºC)
l            SB120/2四探针样品平台(详 见该产品使用说明书)
为被测薄膜样品,利 用四探针测量方式测量导体/半导体样品的电阻和 电阻率,提供了方便。


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