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SB100A/2四探针导体    /半导体电阻率测量仪    介绍>>>

   

   

  SB100A/2为原SB100/1及SB100A/1的改进型。
由于金属块体材料的 电阻和金属薄膜的电阻很低,他们的测量采用四端接线法。为了满足实际的需要,本仪器采用四探针法原理来实现对不同金属、半导体、导电高分子材料的电阻及电阻率的测量。可用于高校物理教育实验,对导体/半导体/金属薄膜材料的电阻 及电阻率的测试及研 究。本产品的电阻测量范围可达10-6—106Ω。(使用环境 5—40℃,相对湿度 <80%,供电220V  50Hz,为实验室环境使用 )
   SB100A/2由SB118直流电压电流源、 PZ158A直流数字电压表、 SB120/2四探针样品测试平台 三部分组成。
l            SB118直流电压电流源:是 一台4½位的电压源及电流源 ,既可输出5µV—50V,5档可调电压,基本误 差为±(0.1%RD+0.02%FS)又可输出 1nA—100mA,5档可调电流,基本误 差为
±(0.03%RD+0.02%FS)详见本公司产品 SB118。
l            PZ158A直流数字电压表:具 有6½位字长,0.1μV电压分辨力的带单片 危机处理技术的高精度电子测量仪器,可测量0-1000V直流电压。基本量程 的基本误差为±(0.002%RD+0.0005%FS),详见本公司产品 PZ158A。
l            SB120/2四探针样品测试平台 :该测试平台是SB120/1测试平台的改进型。 其有底座、支架、旋动部件、样品平台、四探针及接线板等组成。由于其整个结构及旋动方式都在原SB120/1的基础上作了很大的 改进,故在高校的物理实验及科学研究总为导体/半导体/金属薄膜材料的电阻 和电阻率的测试、研究提供了较大的方便。


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